Descripción:
La
difracción de rayos X es una técnica no destructiva de caracterización de la
estructura de los materiales cristalinos.
Se
cuenta con dos equipos: Difractometro
X´PERY Pro MRD PANalytical y el
Difractometro de
polvos Miniflex 600
de Rigaku
Descripción:
La elipsometría es una técnica óptica precisa y exacta, para
la caracterización de películas
delgadas o sistema película
sustrato, con resolución Ángstroms.
Se basa en medir los cambios de la
polarización de la luz al reflejarse o transmitirse en un material. Que están
determinados por dos ángulos (Ψ,Δ).
Estos
cambios son el estado de polarización de
los rayos incidente y reflejado, obteniéndose 00I
parámetros físicos como espesor, índice
de refracción “n” y
coeficiente de extinción k.
Descripción:
La
ionización
por electrospray
(ESI) es una técnica utilizada en espectrometría
de
masas para inducir
una ionización suave, especialmente a
partir de macromoléculas, pues supera la propensión de estas
a fragmentarse
cuando se ionizan. Por
medio de la separación cromatográfica
en UHPLC de diferentes mezclas de compuestos de productos naturales, síntesis
orgánica, péptidos, proteínas y otros, se logran grandes beneficios, incluyendo
análisis más rápidos, mejor resolución, y menor costo para cada separación. La
ionización química a presión atmosférica (APCI) es una técnica
similar,
aunque válida
para compuestos de
baja a alta polaridad; no se requiere que estén ionizados en solución
aunque deben de presentar cierta
volatilidad.
Ambos procesos de analisis
tienen una buena sensibilidad
para compuestos de polaridad y peso molecular intermedios
con características polares.
La
ionización por
MALDI (desorción
/ ionización mediante
láser asistida por matriz),
acoplada a un analizador TOF (tiempo de vuelo), es una técnica de ionización
suave utilizada en espectrometría de masas que permite el análisis de biomoléculas
(biopolímeros como proteínas, péptidos y azúcares) y moléculas orgánicas
grandes (como polímeros, dendrímeros
y otras macromoléculas) que tienden a hacerse frágiles y fragmentarse cuando
son ionizadas por métodos más convencionales.
Descripción:
El
equipo de espectroscopía micro-Raman cofocal
acoplado con Infrarrojo por Transformada de Fourier provee de una técnica de caracterización no
destructiva de materiales mediante la detección de los modos vibracionales
moleculares originados por la dispersión inelástica de una radiación luminosa
de excitación (efecto Raman) y por la absorción de energía infrarroja (FTIR),
donde las muestras pueden ser sólidas (polvos, películas delgadas,
recubrimientos) o líquidas; orgánicos o inorgánicos. La espectroscopía Raman no
ofrece análisis elemental y no es apta para metales puros ni aleaciones.
Descripción:
La
espectroscopia de fotoelectrones inducidos por rayos X es una de las técnicas
de caracterización de superficie más poderosas que existen. Esta técnica
espectroscópica permite detectar
cualquier elemento,
a
excepción del H y el He, presente
en la superficie a una profundidad no mayor a 8 a 10
capas atómicas
con
una resolución espacial ≤ 6 mm.
Los límites
mínimos de detección
se encuentran en el intervalo de 0.1 a 0.5 porciento
en peso dependiendo del
elemento. Cuenta con un sistema de compensación de carga por flujo de argón
para
analizar muestras no conductoras y una platina para análisis angular en el
intervalo de
± 60⁰
con
respecto a la superficie de análisis
Descripción:
El
modelo del microscopio es JSM 7800F marca JEOL, tiene una resolución de 1.2 nm
a 1 kV de aceleración y de 0.8 nm
a 15
kV.
Tiene instalado:
•Detector EDS con una ventana de detección de 30 mm2 y un
detector
EBSD
marca EDAX.
•Detector
STEM.
•Electrones
retrodispersos y tres de electrones secundarios
•Sistema
de desaceleración de electrones útil para materiales no conductores y sensibles
al haz de electrones.
•Limpiador
de plasma.
Descripción:
El
JEM-2100 es un microscopio de
transmisión con un filamento de LaB6
que
puede ser operado a diferentes voltajes de aceleración (80, 100, 120, 160 y 200
kV)
y proporcionar una buena iluminación en altas amplificaciones, para la
obtención de imágenes de alta resolución. Cuenta con una pieza polar objetiva y
un portamuestras
criogénico que hacen posible la observación de muestras a una temperatura de
hasta -160 °C que pueden ser caracterizadas mediante tomografía. Dichas
características permiten el uso del JEM-2100 para una diversidad de
aplicaciones en el terreno médico y
biológico, así como en el área de ciencia de materiales.
Descripción:
En
las imágenes el microscopío
electrónico de barrido (MEB) brinda imágenes que dan información sobre la
topografía y la composición de la superficie de una muestra. El microscopio
Quanta 3D FEG (marca FEI), incluye tres detectores de electrones secundarios
(SE) optimizados para el uso en alto vacío (HV), bajo vacío (LV) y modo
ambiental (ESEM), así como un detector de electrones retrodispersados
(BSE) de estado sólido.
Descripción:
El
JEM-ARM200CF es un microscopio
electrónico
con capacidad de resolución atómica operando en modo TEM o STEM con voltajes de
aceleración de 80 – 200 kV.
Cuenta con un cañón de electrones
de
cátodo frío (Cold Field Emission Gun,
CFEG)
y un corrector de aberración esférica CEOS para el modo STEM, lo que permite
obtener imágenes con resolución de
hasta 78 pm.
El microscopio cuenta con detectores acoplados para realizar análisis químico
mediante EDS
(energy-dispersive
x-ray spectroscopy) y
EELS (electron
energy-loss spectroscopy) con
resolución espectral de 0.3eV. Lo cual complementa las técnicas de
microscopía de imagen en campo claro y campo oscuro (BF/DF) y contraste Z
(HAADF).
Descripción:
El
microscopio opto-mecánico sirve para obtener imágenes topográficas por medio de
una punta afilada que escanea la superficie de la muestra.
Descripción:
Medición
de propiedades micro y nanomecánicas de diversos tipos de materiales y
películas delgadas. El principio de esta técnica consiste en aplicar una carga
con una punta de diamante sobre una superficie para provocar una deformación
local.
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